廣州光電高低溫交變試驗箱有關系統(tǒng)控制電路說明
▲、我司在為了廣州光電高低溫交變試驗箱，能夠更加好的應用與各種不同的實驗標準在仿真不同電子構件，在實際使用環(huán)境中遭遇的溫度條件。
▲、廣州光電高低溫交變試驗箱為能夠為客戶提供更加好的測試環(huán)境，更加嚴格的測試環(huán)境境溫差范圍及急促升降溫度改變，可以提供更為嚴格測試環(huán)境，縮短測試時間，降低測試費用，但是必須要注意可能對材料測試造成額外的影響，產(chǎn)生非使用狀態(tài)的破壞試驗。(需把握在失敗機制依然未受影響的條件下)RAMP試驗條件標示為：Temperature Cycling 或Temperature Cycling Test也就是溫度循環(huán)(可控制斜率的溫度沖擊)。
廣州光電高低溫交變試驗箱基本工作條件
▲、時鐘振蕩：IC1得到供電后，它內(nèi)部的振蕩器與①、②腳外接的晶振CST和R3、C16 通過振蕩產(chǎn)生4MHz的時鐘信號。該信號經(jīng)分頻后協(xié)調(diào)各部位的工作，并作為IC1輸出各種 控制信號的蓮準脈沖源。廣州光電高低溫交變試驗箱
▲、CPU進入正常工作狀態(tài)，需具備5V供電、復位、時鐘振蕩正常的三個基本條件。
5V供電：插好電廣州光電高低溫交變試驗箱的電源線，待低壓電源工作后，由輸出的5V電壓經(jīng)C3、C6濾波 后，加到微處理器丨C1的供電端⑯腳.為IC1供電，
▲、復位：該機的復位信號形成由集成電路IC4實現(xiàn)。幵機瞬間，由于5V電源在濾波電容 的作用下是逐漸升高的，當該電壓低于設置值時（多為3.6V), IC4的輸出端輸出一個低電平 的復位信號。該信號通過R4加到微處理器IC1的③腳.IC1內(nèi)的存儲器、寄存器等電路清零 復位。隨著5V電源不斷升高，IC4輸出髙電平信號并加到【C1的③腳后，ICI內(nèi)部電路復位 結束，幵始工作.